Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu Ve Uygulamaları

Abstract

Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu (KKAM) yüzeylerin iş fonksiyonlarını atomik ve moleküler ölçekte gözleyebilen atomik kuvvet mikroskobunun (AKM) değişik bir türüdür. Bu yüzden Yüzey Potansiyeli Mikroskobu olarak da bilinir. Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu nun Atomik Kuvvet Mikroskobundan farkı Kelvin metodu prensibine göre çalışması ve yüksek çözünürlüklü topografi bilgisinin yanı sıra yüzeylerin iş fonksiyonları farkını vermesidir. Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu ile sağladığımız iş fonksiyonu haritası, o materyalin yerel yapılarının elektronik durumları ve kompozisyonu hakkında bilgi verir. Bu çalışmada Kuvvet Aygıtı Mikroskobu ile farklı malzemeler incelenmiştir.

Kelvin Probe Force Microscopy(KPFM) is a modified version of Atomic Force Microscopy(AFM) which measures the local surface potential or work function of different metals with high spatial resolution. It is also known as Surface Potential Microcopy . The difference of KPFM from AFM is that it depends on the principle of Kelvin method and provides work function difference of metals as well as high resolution topography imaging. The work function map obtained from KPFM provides electronic characterization of materials. In this work different materials werw analyzed by KPFM.