Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu Ve Uygulamaları
Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu Ve Uygulamaları
Dosyalar
Tarih
24.09.2010
Yazarlar
Özkan, Nihan
Süreli Yayın başlığı
Süreli Yayın ISSN
Cilt Başlığı
Yayınevi
Fen Bilimleri Enstitüsü
Institute of Science and Technology
Institute of Science and Technology
Özet
Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu (KKAM) yüzeylerin iş fonksiyonlarını atomik ve moleküler ölçekte gözleyebilen atomik kuvvet mikroskobunun (AKM) değişik bir türüdür. Bu yüzden Yüzey Potansiyeli Mikroskobu olarak da bilinir. Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu nun Atomik Kuvvet Mikroskobundan farkı Kelvin metodu prensibine göre çalışması ve yüksek çözünürlüklü topografi bilgisinin yanı sıra yüzeylerin iş fonksiyonları farkını vermesidir. Kelvin Kuvvet Aygıtı Mikroskobu ile sağladığımız iş fonksiyonu haritası, o materyalin yerel yapılarının elektronik durumları ve kompozisyonu hakkında bilgi verir. Bu çalışmada Kuvvet Aygıtı Mikroskobu ile farklı malzemeler incelenmiştir.
Kelvin Probe Force Microscopy(KPFM) is a modified version of Atomic Force Microscopy(AFM) which measures the local surface potential or work function of different metals with high spatial resolution. It is also known as Surface Potential Microcopy . The difference of KPFM from AFM is that it depends on the principle of Kelvin method and provides work function difference of metals as well as high resolution topography imaging. The work function map obtained from KPFM provides electronic characterization of materials. In this work different materials werw analyzed by KPFM.
Kelvin Probe Force Microscopy(KPFM) is a modified version of Atomic Force Microscopy(AFM) which measures the local surface potential or work function of different metals with high spatial resolution. It is also known as Surface Potential Microcopy . The difference of KPFM from AFM is that it depends on the principle of Kelvin method and provides work function difference of metals as well as high resolution topography imaging. The work function map obtained from KPFM provides electronic characterization of materials. In this work different materials werw analyzed by KPFM.
Açıklama
Tez (Yüksek Lisans) -- İstanbul Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2010
Thesis (M.Sc.) -- İstanbul Technical University, Institute of Science and Technology, 2010
Thesis (M.Sc.) -- İstanbul Technical University, Institute of Science and Technology, 2010
Anahtar kelimeler
Kelvin metodu,
İş fonksiyonu farkı,
Kontak potensiyeli,
Kelvin Method,
Work function difference,
Contact potential