Teo2-tio2 İkili Sisteminde Cam Ve Cam Seramik Oluşumunun Mikroyapısal Ve Termal Karakterizasyonu

thumbnail.default.alt
Tarih
2013-07-19
Yazarlar
Kavurt, Süleyman Eray
Süreli Yayın başlığı
Süreli Yayın ISSN
Cilt Başlığı
Yayınevi
Fen Bilimleri Enstitüsü
Institute of Science and Technology
Özet
Bu çalışmada, TeO2-TiO2 sisteminde cam ve cam seramik oluşumunun mikroyapısal ve termal karakterizasyonu yapılmıştır. %90TeO2 -%10TiO2, %85TeO2-%15TiO2,%83 TeO2-%17TiO2 molar oranlarında üç farklı kompozisyonda numune hazırlanmıştır. Daha sonra üç farklı kompozisyonda sentezlenen TeO2-TiO2 camlarının kristalizasyon eğrilerini, cam geçiş ve kristallenme sıcaklıklarını tespit etmek amacıyla dört farklı ısıtma hızında diferansiyel termal analiz yöntemi kullanılmıştır. Bu yöntemde elde edilen veriler doğrultusunda ısıl işlem sıcaklıkları belirlenmiş, aktivasyon enerjileri hesaplanmış, Kissenger ve Osawa denklemleriyle kristalizasyon mekaniği belirlenmiştir. Bir sonraki aşamada x-ışınları difraksiyonu yöntemiyle numunelerde oluşan kristal fazlar ve yapılar saptanmıştır. Son olarak numunelerde ısıl işlem sonrası oluşan yapıları incelemek ve XRD sonuçlarını teyit etmek amacıyla SEM’den (Taramalı elektron mikroskobu) faydalanılmıştır.
In this study it is aimed to investigate microstructural and thermal characterization of glass and glass ceramic formation in TeO2-TiO2 binary system. In molar ratios %90TeO2 -%10TiO2, %85TeO2-%15TiO2,%83 TeO2-%17TiO2 three different composition sample is produced. After that diferantial thermal analysis method is used in different heating ratio to locate crystallization graphics, glass transition and crystallization temperatures of TeO2-TiO2 glasses. According to results of diferantial thermal analysis studies heat threatment temperatures and by the help of Kissenger and Osawa equations crystallization mechanisms are determined and activation energies are calculated. At the next stage crystal phases and structures formed in the samples are determined by the help of x-ray diffraction method. At last SEM (scanning electron microscope) is used to investigate structures formed in heat treated samples and confirm the results of XRD.
Açıklama
Tez (Yüksek Lisans) -- İstanbul Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2013
Thesis (M.Sc.) -- İstanbul Technical University, Institute of Science and Technology, 2013
Anahtar kelimeler
Cam, Seramik, Tellür, Glass, Ceramic, Telluride
Alıntı