Yayın:
Bağımsız Örneklem Testiyle Patent Kalite Kriterleri Değerlendirmesi: Beyaz Eşya Sektöründe Bir Uygulama

Yükleniyor...
Küçük Resim

Tarih

Kurum Yazarları

Bölüm / Program

İşletme
Management

Dergi Başlığı

Dergi ISSN

Cilt Başlığı

Yayıncı

Sosyal Bilimler Enstitüsü
Institute of Social Sciences

Araştırma Projeleri

Akademik Birimler

Dergi Sayısı

Özet

Günümüzde firmaların artan fikri mülkiyeti içerisinde patentlerin ağırlığı gittikçe yükselmekte ve patentlerin değerlemesi önemli bir ihtiyaç olarak görülmektedir. Özellikle patentlerin nitel açıdan değerlemesi anlamına gelen patent kalitesi ile ilgili çalışmalara literatürde bir hayli az rastlanmakta ve ülkemizde de kayda değer bir örneği görülmemektedir. Buradan hareketle, bu çalışmada amaçlanan ülkemizde patent alanında başat bir rolü olan beyaz eşya sektörüne ait Avrupa Patentleri içinde 2005-2015 yılları arasında itiraza uğramış ve uğramamış patent tescillerinin patent kalite kriterleri bağlamında anlamlı bir fark oluşturup oluşturmadığını ortaya koymaktadır.
The weight of patents is rising day by day in the increasing intellectual property of companies and the valuation of patents is seen as an important need. In particular, studies on patent quality, which means qualitative valuation of patents, are quite rare in the literature and there is no significant example in our country. From this point of view, the aim of this study reveals whether the granted patents, which had a prominent role in the field of patents in the European patent belonging to the white goods sector between 2005 and 2015, made a significant difference in the context of the patent quality criteria.

Tanım

Tez (Yüksek Lisans) -- İstanbul Teknik Üniversitesi, Sosyal Bilimler Enstitüsü, 2020
Thesis (M.A.) -- İstanbul Technical University, Institute of Social Sciences, 2020

Dergi veya Seri

ISSN

ISBN

Haklar

Kurumsal arşive yüklenen tüm eserler telif hakkı ile korunmaktadır. Bunlar, bu kaynak üzerinden herhangi bir amaçla görüntülenebilir, ancak yazılı izin alınmadan herhangi bir biçimde yeniden oluşturulması veya dağıtılması yasaklanmıştır.
All works uploaded to the institutional repository are protected by copyright. They may be viewed from this source for any purpose, but reproduction or distribution in any format is prohibited without written permission.

Anahtar Kelimeler

patent, patent kriterleri, patent

Alıntı

Onay

Gözden geçir

Tamamlayıcı Bilgiler

Referans Gösteren

Related Patent

Related Goal

40
Görüntülenme
336
İndirme
Google Scholar
Scholar'da Ara ↗
Bu yayında DOI yok — Altmetric/Dimensions/PlumX/BIP! rozetleri DOI gerektirir.