FBE- Fizik Mühendisliği Lisansüstü Programı - Doktora

Bu koleksiyon için kalıcı URI

http://hdl.handle.net/11527/38

Gözat

Konu "Aluminum oxide" ile FBE- Fizik Mühendisliği Lisansüstü Programı - Doktora'a göz atma
  • Öge
    Al2O3-BaO-CaO-SiO2 dörtlü sisteminde katı halde faz bağıntıları
    (Fen Bilimleri Enstitüsü, 1984) Topçu, Emine ; Tulgar, H. Erman ; 2095 ; Fizik Mühendisliği ; Physics Engineering
    Aİ2O3 - BaO - CaO - Si02 dörtlü sistemini oluşturan Aİ2O3 - CaO - SİO2; BaO - CaO - SİO2; AI2O3 - BaO - CaO ve Aİ2O3 - BaO - SİO2 üçlü sisteminin katı halde faz bağın tıları incelenmiş olup, deneysel çalışmalar iki grup içinde yürütülmüştür. Birinci grup deneysel çalışmalar içinde ikili denge diyagramları tek tek ele alınmış ve herbir sistemde varolan ara kimyasal bileşikler ayrı ayrı incelenmiştir. İkinci grup deneysel çalışmalar içerisinde ise, üçlü denge diyagramları tek tek ele alına rak Alkemade doğru ve üçgenlerinin durumu saptan mıştır. Araştırma konusu dörtlü sistemin Alkemade doğru ve üçgenlerinin saptanmasında Philips marka (PW 1140/90) X-ışınları difraktometresi kullanıl mıştır. X-ışınları difraktometre cihazı, bakır hedef maddeli X-ışınları tübü ile 40 Kv-30 mA de çalıştırılmıştır. II Kristal yapıdaki kimyasal bileşiklerin X- ışınları difraktometresi ile incelenmesinde ön görülen ana prensip, her kristalin maddenin bir diğerinden farklı karakteristik bir diyagram ver mesi esasına dayanır. İncelemesi yapılan numune nin birden fazla kimyasal bileşik içermesi ha linde elde edilen X-ışınları diyagramında, her- bir kimyasal bileşiği simgeleyen karakteristik çizgiler bulunacaktır. Alkemade doğrularının birbirini keseme- yeceği ve gerçek bir Alkemade doğrusunda Alkemade doğrusunun köşelerini oluşturan kimyasal bileşik lerin karakteristik X-ışınları verilerinin, söz konusu Alkemade doğrusu üzerinde alınan herhangi bir alaşımda var olması gerektiği hususları, araştırma boyunca göz önünde tutulmuştur. Gerçek olduğu varsayılan bir Alkemade üçgeninin içinde ise seçilen herhangi bir numunenin X-ışınları verilerinin, söz konusu Alkemade üçgeninin köşe lerini oluşturan kimyasal bileşiklerin X-ışınları verilerinden ibaret olması gerekmektedir. Numune de başlangıç maddelerinin veya iki (Alkemade doğ rusu) ve üçten (Alkemade üçgeni) fazla kimyasal bileşiğin X-ışınları verilerinin bulunması ha linde, denge koşulları yerine getirilememiş de mektir. Bu durumda numunenin yeniden öğütülerek farklı ısıl işlemlere tabi tutulması gerekir. Bu amaçla araştırma sırasında, 1200 C sıcaklığa kadar Heraeus marka KR-170 tipi, 1500 C sıcaklığa kadar Heraeus marka KS-120 tipi ve 1700°C sıcaklığa kadar Lindberg marka CP-IR tipi fırın kullanılmıştır. Alkemade doğru ve üçgenlerinin saptanması amaciyle hazırlanan 400 den fazla numunede tar tım hata oranı İ %0,01 mertebesinde tutulmuştur. Ill Aİ2Û3, BaO (BaC03), CaO (CaCC^) ve SİO2 oranları hesaplanan ve tartımları yapılan numuneler, agat havan içerisinde öğütülüp karıştırılarak platin krözelerde ve atmosfer basıncı altında ısıl iş leme tabi tutulmuştur. Pırından çıkartılarak soğutulan herbir numune tekrar öğütülmüş ve daha önce saptanan ergime sıcaklığının 50 ilâ 100°C altındaki bir sıcaklıkta yeniden bir ısıl işleme tabi tutulmuştur. Denge koşullarının sağlana bilmesi amaciyle farklı sıcaklıklarda ısıl iş leme tabi tutulan numuneler, değişik zaman ara lıklarında fırından çıkartılarak öğütülmüş ve yeniden fırına verilmiştir. Reaksiyon tamamla nıncâya kadar sürdürülen bu işlemlerden sonra, numune fırında soğutulmuş ve agat havan içeri sinde toz haline getirilerek X-ışınları difrak siyon diyagramları alınmıştır. Deneysel çalışmalar sonunda elde edilen sonuçlar 13 madde halinde özetlenmiştir.