FBE- Elektronik Mühendisliği Lisansüstü Programı - Yüksek Lisans
Bu koleksiyon için kalıcı URI
Gözat
Yazar "Aksoy, Levent" ile FBE- Elektronik Mühendisliği Lisansüstü Programı - Yüksek Lisans'a göz atma
Sayfa başına sonuç
Sıralama Seçenekleri
-
ÖgeKombinezonsal devrelerde tek takılı kalma hatalar için test dizisi üretimi(Fen Bilimleri Enstitüsü, 2003) Aksoy, Levent ; Güneş, Ece Olcay ; 142843 ; Elektronik MühendisliğiVLSI devrelerin karmaşıklığı, her on sekiz ayda bir tümdevre içindeki tranzistör sayısının iki katma çıkması olarak varsayılan Moore kuralına göre arttıkça test maliyeti, bütün tümdevre üretim maliyeti üzerinde önemli bir faktöre sahip olmaktadır. Test maliyetleri ise test dizisi üretme ve test uygulama işlemlerini içerir. Tarama tabanlı test edilebilir tasarım (DFT) tekniklerinin, bugünkü VLSI devrelerinde oldukça fazla kullanılması ile kombinezonsal devreler için test dizisi üretimi daha da önemli hale gelmektedir. Tarama tabanlı DFT teknikleri, test amaçlan doğrultusunda bir ardışıl devreyi, bir kombinezonsal devreye dönüştürebilir. Bundan dolayı geniş yelpazedeki VLSI devrelerinin test problemini çözmek için kombinezonsal devrelerde test dizisi üretme işlemini etkili bir şekilde yapan test dizisi üreticilerine gerek duyulur. Test işleminde önemli bir konu, test dizisi üretiminde kullanılan hata modelidir. Hata modelinin seçimi için ana gereksinim, hata modelinin, devreler içinde sıklıkla meydana gelen fiziksel hatalardan oluşan fonksiyonel değişimleri kapsayabilecek olmasıdır. Bu tezde, klasik hata modeli olarak bilinen ve kombinezonsal devrelerde tek takılı kalma hatalar için oluşturulan hata modeli incelenmiştir. Tek takılı kalma hatalar için test dizisi üretme aşamaları tanıtılmıştır. Hata katılması, hata aktarımı ve bağlantı doğrulama gibi test dizisi üretme aşamaları ve bu aşamalarda kullanılan yöntemler açıklanmıştır. Kombinezonsal devrelerde tek takılı kalma hatalar için test dizisi üretimi, verilen bir hatayı algılama doğrultusunda devre girişlerindeki uygun lojik atamaların bulunması ile sonlu uzayda arama problemi olarak görülebilir. Arama uzayının büyüklüğü devrenin girişleri ile üstel olarak değiştiğinden dolayı, test dizisi üretme işleminin zaman boyutundaki karmaşıklığının üstel olduğu ispatlanmıştır ve test dizisi üretimini hızlandıracak etkili tekniklerin bulunması önemlidir. Bu yüzden verilen bir hata için test dizisi bulmada kullanılan karar ağaçlan ve karar ağacında yapılan bir arama sırasında test dizisinin bulunmasına rehberlik etmede kullanılan test edilebilirlik ölçüleri önemlidir. Bu tezde, test dizisi üretiminin değişik seviyelerinde farklı karar ağaçları ve SCOAP olarak adlandınlan test edilebilirlik ölçüsü tanıtılmıştır. Lojik devrelerin hata simülasyonu, test dizisi üretme işleminin önemli bir parçasıdır. Hata simülasyonu, hata sözlüklerinin oluşturulması, hataları algılaması için üretilmiş test dizilerinin doğruluğunun kanıtlanması ve lojik hataların konumlarının belirlenmesi için kullanılır. Daha da fazlası, hata simülasyonu, test dizisi ile algılanan bütün hatalann bulunması ile verilen test dizisinin hata kapsamının bulunmasında sıklıkla gereklidir. Hata simülasyonu, devrenin farklı hata durumları altında tasarımcı tarafından incelenmemiş davranışını analiz etmek için uygulanır. Bu tezde, kritik yol takibi tabanlı hata simülasyonu tanıtılmıştır ve test dizisi üretiminde verilen bir test ıx dizisi ile algılanan hataların belirlenmesi için kullanılmıştır. Ayrıca verilen bir test edilemez hata ile algılanan test edilemez hataları belirleyen yöntem, test dizisi üretiminde kullanılmıştır. Küçültülmüş test kümeleri, VLSI devrelerin test uygulama süresini azaltması açısından oldukça önemlidir. Aynı zamanda küçük test kümeleri, test saklama gereksinimlerini küçültür. Bu tezde, hata simülasyonları kullanılarak veya kullanılmadan elde edilen test kümesi için iki farklı test kümesi küçültme yöntemi tanıtılmıştır. Sonuç olarak bu tezde verilen yöntemler ile COM_TEST olarak adlandırılan test dizisi üreticisi, bir bilgisayar programı olarak geliştirilmiştir. COM_TEST farklı devreler üzerinde test edilmiş ve sonuçlar verilmiştir.