Tek Eksenli Çekme Cihazı İle Tümleşik Floresan Mikroskop Kullanılarak İki Boyutta Yüksek Çözünürlüklü Yerel Gerinim Ölçümü

dc.contributor.authorAydın, Onur
dc.contributor.authorAksoy, Bekir
dc.contributor.authorBayraktar, Halil
dc.contributor.authorAlaca, B. Erdem
dc.date.accessioned2017-06-16T09:50:56Z
dc.date.available2017-06-16T09:50:56Z
dc.date.issued2015
dc.descriptionKonferans Bildirisi -- Teorik ve Uygulamalı Mekanik Türk Milli Komitesi, 2015
dc.descriptionConference Paper -- Theoretical and Applied Mechanical Turkish National Committee, 2015
dc.description.abstractBu çalışmada, floresan mikroskop üzerine montelenebilecek şekilde özel imal edilen tek eksenli çekme düzeneği kullanılarak yumuşak malzemelerde iki boyutlu gerinim ölçüm tekniği geliştirilmiştir. Çalışma kapsamında, tek eksenli çekme düzeneğinin tasarımı, imalatı, kalibrasyonu ve floresan mikroskop ile tümleştirilmesi tamamlanmıştır. Geliştirilen gerinim ölçüm tekniğinin denenmesi için içerisinde floresan kürecikler gömülü polimer numuneler hazırlanmıştır. Numuneler çekilirken eşzamanlı olarak floresan küreciklerin hareketinin yüksek çözünürlüklü floresan mikroskop ile takibi yapılmıştır. Floresan mikroskop görüntüleri işlenerek iki boyutlu yerel gerinim ölçümü çalışması amaçlanmaktadır. Bu çalışmada geliştirilen teknik ile çekme deneyinde kullanılan numunenin üzerinde ilgilenilen bölgelerin yerel gerinim değerlerinin doğrudan elde edilmesi mümkün kılınmıştır.
dc.description.abstractWe present a technique for the measurement of 2D strain fields in soft materials in tensile loading by using fluorescent microscopy and a custom-built uniaxial stretcher. The design, manufacturing, assembly, and characterization of the uniaxial tensile stretcher setup have been completed. The stretcher setup was also successfully integrated with an inverted fluorescent microscope. Polymer samples with embedded flurescent microspheres were prepared for the demonstration of 2D strain measurement technique and instrumentation. The fluorescent microspheres embedded in the sample were tracked using fluorescent microscopy while the sample was under tensile loading. Image processing method for calculating strain fields is in progress. The local strain measurement technique presented herein enables the direct measurement of in-plane strains in a region of interest in the specimen.
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11527/14594
dc.publisherTeorik ve Uygulamalı Mekanik Türk Milli Komitesi
dc.publisherTheoretical and Applied Mechanical Turkish National Committee
dc.rightsKurumsal arşive yüklenen tüm eserler telif hakkı ile korunmaktadır. Bunlar, bu kaynak üzerinden herhangi bir amaçla görüntülenebilir, ancak yazılı izin alınmadan herhangi bir biçimde yeniden oluşturulması veya dağıtılması yasaklanmıştır.
dc.rightsAll works uploaded to the institutional repository are protected by copyright. They may be viewed from this source for any purpose, but reproduction or distribution in any format is prohibited without written permission.
dc.titleTek Eksenli Çekme Cihazı İle Tümleşik Floresan Mikroskop Kullanılarak İki Boyutta Yüksek Çözünürlüklü Yerel Gerinim Ölçümü
dc.typeConference Paper

Dosyalar

Orijinal seri

Şimdi gösteriliyor 1 - 1 / 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
Ad:
019_aydin.pdf
Boyut:
588.05 KB
Format:
Adobe Portable Document Format

Lisanslı seri

Şimdi gösteriliyor 1 - 1 / 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
Ad:
license.txt
Boyut:
3.16 KB
Format:
Plain Text
Açıklama