Pirol, Karbazol, İndol Ve Tiyofen’ İn Karşılaştırmalı Polimerizasyonu Ve Karakterizasyonu

Abstract

Bu çalışmada, pirol (Py), karbazol (Cz), indol (IN) ve tiyofen (Th) monomerleri elektrokimyasal olarak, potansiyeldinamik (PD), potansiyelstatik (PS) ve galvanostatik (GS) yöntemleri ile polimerleştirildi. karşılaştırma parametreleri olarak çözücü elektrolit, yöntem ve polimerizasyon yöntemleri seçildi. Elde edilen polimerin iletkenlik ve tersinirlikleri Döngüsel voltametri (CV), empedans ve kapasitans değerleri elektrokimyasal empedans spektroskopisi (EIS) yöntemleri ile tayin edildi. Her polimer için en tersinir ve kapasitif filmlerin elde edilme yöntemleri belirlendi ve bu yöntemlere ait eşdeğer devre çizimleri yapıldı. Her bölümün darvranışı, ohmik direnç (Rs), yük transfer direnci (Rct), spesifik kapasitans (Csp), elektronik ve iyonik taşıyıcıların difüzyon katsayısı (W) gibi klasik elektriksel terimlerle ifade edildi. Optik bant açıklıkları spektroelektrokimyasal spektroskopi (SEC) ölçümlerden faydalanılarak gerçekleştirildi. Yüzey morfolojileri atomik kuvvet mikroskobu (AFM) ile çekilen mikrogarfikler yardımıyla incelendi.

In this study, pyrrole (Py), carbazole (Cz), indole (IN) and thiophene (Th) were polymerized via potentiodynamical (PD), potentiostatical (PS) and galvanostatical (GS) methods under solvent/electrolyte and the polymerization time parameters. Conductivity and reversibility of polymers were determined by cyclic voltammetry (CV), impedance and capacitance values were investigated by electrochemical impedance spectroscopy (EIS). Conditions of obtaining best reversible and most capacitive film were determined for each polymer, equivalent circuits of these polymerization methods were plotted. Behaviour of each part simulated by the classical electrical terms such as ohmic resistance (Rs), charge transfer resistance (Rct), double layer capacitance (Cdl), specific capacitance (Csp) diffusion coefficent of electronic and ionic carriers (W). Transitions between the parameters are built in series or parralels. Optical bandgaps were determined via results of spectro electrochemistry (SEC) measurements. Atomic force microscope (AFM) micrographs were investigated for the surface characterization.