TiO2 ve katkılı TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu

dc.contributor.advisor Tepehan, Galip G.
dc.contributor.author Türhan, İbrahim
dc.contributor.authorID 100887
dc.contributor.department Fizik Mühendisliği tr_TR
dc.date.accessioned 2023-03-16T05:51:22Z
dc.date.available 2023-03-16T05:51:22Z
dc.date.issued 2000
dc.description Tez (Yüksek Lisans) -- İstanbul Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2000 tr_TR
dc.description.abstract Bu çalışmada teknolojideki etkin kullanımı nedeni ile VO2 katkılı TİO2 filmlerin optik özellikleri incelenmiştir. Geçirgenliği yüksek ve dayanıklılığı iyi bir malzeme olan TİÖ2 filmleri, hacimsel olarak değişik yüzde oranlarında VO2 ile katkılandırılmıştır..Hazırlanan sollerden daldırma (dip) ve döndürme (spin) yöntemleri ve değişik katman sayılarında oluşturulan filmlerin optik geçirgenlikleri 200 - HOOnm dalga boyu aralığında ve normal geliş halinde ölçülmüştür Geçirgenlik - dalga boyu eğrilerinden hesaplanan kırma indisleri, film kaplama yöntemi, katman sayısı (dolayısıyla kalınlık), döndürme hızı ve VO2 konsantrasyonuna bağlı olarak incelenmiştir. Elde edilen değerler, filmlerin kırma indislerinin yukarıda sıralanan parametrelere şiddetle bağlı olduğu gösterilmiştir. tr_TR
dc.description.abstract In this work, we have investigated the optical properties of VO2 doped thin films because of their wide use in technology. TİO2 thin films, which have a hight transmittance capability and durability, have been prepared in various VO2 doping concentration percentages. The transmittance spectra of the films, which are prepared dip and spin coating technics from the sol, have been measured by the normal incidence UV-Visible Spectraphotometer between 200nm and HOOnm. The refractive index of the prepared thin films have been calculated from the transmittance - wavelength spectra. These films have been investigated with respect to the coating methods, number of layers, spin rate and concentration of VO2. The results show that the refractive index of the prepared films, strongly depend on these parameters. en_US
dc.description.degree Yüksek Lisans tr_TR
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/11527/22843
dc.language.iso tr
dc.publisher Fen Bilimleri Enstitüsü tr_TR
dc.rights Kurumsal arşive yüklenen tüm eserler telif hakkı ile korunmaktadır. Bunlar, bu kaynak üzerinden herhangi bir amaçla görüntülenebilir, ancak yazılı izin alınmadan herhangi bir biçimde yeniden oluşturulması veya dağıtılması yasaklanmıştır. tr_TR
dc.rights All works uploaded to the institutional repository are protected by copyright. They may be viewed from this source for any purpose, but reproduction or distribution in any format is prohibited without written permission. en_US
dc.subject Karakterizasyon tr_TR
dc.subject Optik özellikler tr_TR
dc.subject Sol-jel yöntemi tr_TR
dc.subject Titanyum dioksit tr_TR
dc.subject Vanadyum oksit tr_TR
dc.subject İnce filmler tr_TR
dc.subject Characterization en_US
dc.subject Optical properties en_US
dc.subject Sol-gel method en_US
dc.subject Titanium dioxide en_US
dc.subject Vanadium oxide en_US
dc.subject Thin films en_US
dc.title TiO2 ve katkılı TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu tr_TR
dc.title.alternative Preparation and characterization of TiO2 and doped TiO2 thin films en_US
dc.type Master Thesis tr_TR
Dosyalar
Orijinal seri
Şimdi gösteriliyor 1 - 1 / 1
thumbnail.default.alt
Ad:
100887.pdf
Boyut:
2.02 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Açıklama
Lisanslı seri
Şimdi gösteriliyor 1 - 1 / 1
thumbnail.default.placeholder
Ad:
license.txt
Boyut:
3.16 KB
Format:
Plain Text
Açıklama