TiO2 ve katkılı TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu
TiO2 ve katkılı TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu
dc.contributor.advisor | Tepehan, Galip G. | |
dc.contributor.author | Türhan, İbrahim | |
dc.contributor.authorID | 100887 | |
dc.contributor.department | Fizik Mühendisliği | tr_TR |
dc.date.accessioned | 2023-03-16T05:51:22Z | |
dc.date.available | 2023-03-16T05:51:22Z | |
dc.date.issued | 2000 | |
dc.description | Tez (Yüksek Lisans) -- İstanbul Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2000 | tr_TR |
dc.description.abstract | Bu çalışmada teknolojideki etkin kullanımı nedeni ile VO2 katkılı TİO2 filmlerin optik özellikleri incelenmiştir. Geçirgenliği yüksek ve dayanıklılığı iyi bir malzeme olan TİÖ2 filmleri, hacimsel olarak değişik yüzde oranlarında VO2 ile katkılandırılmıştır..Hazırlanan sollerden daldırma (dip) ve döndürme (spin) yöntemleri ve değişik katman sayılarında oluşturulan filmlerin optik geçirgenlikleri 200 - HOOnm dalga boyu aralığında ve normal geliş halinde ölçülmüştür Geçirgenlik - dalga boyu eğrilerinden hesaplanan kırma indisleri, film kaplama yöntemi, katman sayısı (dolayısıyla kalınlık), döndürme hızı ve VO2 konsantrasyonuna bağlı olarak incelenmiştir. Elde edilen değerler, filmlerin kırma indislerinin yukarıda sıralanan parametrelere şiddetle bağlı olduğu gösterilmiştir. | tr_TR |
dc.description.abstract | In this work, we have investigated the optical properties of VO2 doped thin films because of their wide use in technology. TİO2 thin films, which have a hight transmittance capability and durability, have been prepared in various VO2 doping concentration percentages. The transmittance spectra of the films, which are prepared dip and spin coating technics from the sol, have been measured by the normal incidence UV-Visible Spectraphotometer between 200nm and HOOnm. The refractive index of the prepared thin films have been calculated from the transmittance - wavelength spectra. These films have been investigated with respect to the coating methods, number of layers, spin rate and concentration of VO2. The results show that the refractive index of the prepared films, strongly depend on these parameters. | en_US |
dc.description.degree | Yüksek Lisans | tr_TR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11527/22843 | |
dc.language.iso | tr | |
dc.publisher | Fen Bilimleri Enstitüsü | tr_TR |
dc.rights | Kurumsal arşive yüklenen tüm eserler telif hakkı ile korunmaktadır. Bunlar, bu kaynak üzerinden herhangi bir amaçla görüntülenebilir, ancak yazılı izin alınmadan herhangi bir biçimde yeniden oluşturulması veya dağıtılması yasaklanmıştır. | tr_TR |
dc.rights | All works uploaded to the institutional repository are protected by copyright. They may be viewed from this source for any purpose, but reproduction or distribution in any format is prohibited without written permission. | en_US |
dc.subject | Karakterizasyon | tr_TR |
dc.subject | Optik özellikler | tr_TR |
dc.subject | Sol-jel yöntemi | tr_TR |
dc.subject | Titanyum dioksit | tr_TR |
dc.subject | Vanadyum oksit | tr_TR |
dc.subject | İnce filmler | tr_TR |
dc.subject | Characterization | en_US |
dc.subject | Optical properties | en_US |
dc.subject | Sol-gel method | en_US |
dc.subject | Titanium dioxide | en_US |
dc.subject | Vanadium oxide | en_US |
dc.subject | Thin films | en_US |
dc.title | TiO2 ve katkılı TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu | tr_TR |
dc.title.alternative | Preparation and characterization of TiO2 and doped TiO2 thin films | en_US |
dc.type | Master Thesis | tr_TR |