Publication:
İnce Filmlerin Sertliklerinin Derinliğe Duyarlı İndentasyon Yöntemi İle Belirlenirken Oluşabilecek Hataların Belirlenmesi

Loading...
Thumbnail Image

Date

Institution Authors

Department

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Fen Bilimleri Enstitüsü
Institute of Science and Technology

Research Projects

Organizational Units

Journal Issue

Abstract

Gelişmiş özelliklere sahip cihazlar kullanılarak uygulanan derinliğe duyarlı indentasyon yöntemi kaplamaların güvenilir bir şekilde karakterizasyonunu sağlar. Nitekim bu yöntemde ölçüm sonuçlarının doğruluğunu etkileyen bir çok etken bulunmaktadır. Bu çalışmada, numune pürüzlülüğünün indentasyon sonuçlarına etkisi incelenmiştir. İndentasyon izleri taramalı elektron mikroskobu ile görüntülenmiş, bu görüntülerden belirlenilen sertlik değerleri, derinliğe duyarlı indentasyon yöntemi ile belirlenen sertlik değerleri ile karşılaştırılmıştır. Belirlenen sertlik değerleri arasında fark gözlenmiş, bu farkın numune yüzeylerinin pürüzlülüğünden kaynaklandığı düşünülmüştür.
Depth sensing indentation, conducted using devices with enhanced accuracy and capabilities, contributes to the reliable characterization of coatings. In this method there are many parameters that significantly affect measurement reliability and thus may lead to errors in the evaluation of results. In this paper, the effect of specimen roughness on the accuracy of the indentation results is taken into account. The residual indentations were viewed with scanning electron microscopy (SEM) and the hardness values determined from residual indent areas were compared with values determined by depth sensing indentation method. The two methods show differences in the hardness values obtained, which is attributed to high roughness values of the specimens.

Description

Tez (Yüksek Lisans) -- İstanbul Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2004
Thesis (M.Sc.) -- İstanbul Technical University, Institute of Science and Technology, 2004

Journal or Series

ISSN

ISBN

Rights

İTÜ tezleri telif hakkı ile korunmaktadır. Bunlar, bu kaynak üzerinden herhangi bir amaçla görüntülenebilir, ancak yazılı izin alınmadan herhangi bir biçimde yeniden oluşturulması veya dağıtılması yasaklanmıştır.
İTÜ theses are protected by copyright. They may be viewed from this source for any purpose, but reproduction or distribution in any format is prohibited without written permission.

Keywords

Sertlik, Derinliğe duyarlı indentasyon, İnce filmler, Taramalı elektron mikroskobu, Pürüzlülük, Hardness, Depth sensing Indentation, Thin films, Scanning Electron Microscope, Roughness

Citation

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Related Patent

Related Goal

18
Görüntülenme
42
İndirme
Google Scholar
Scholar'da Ara ↗
Bu yayında DOI yok — Altmetric/Dimensions/PlumX/BIP! rozetleri DOI gerektirir.