Yayın:
TiO2 ve katkılı TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu

dc.contributor.advisorTepehan, Galip G.
dc.contributor.authorTürhan, İbrahim
dc.contributor.authorID100887
dc.contributor.departmentFizik Mühendisliği
dc.date.accessioned2023-03-16T05:51:22Z
dc.date.available2023-03-16T05:51:22Z
dc.date.issued2000
dc.descriptionTez (Yüksek Lisans) -- İstanbul Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2000
dc.description.abstractBu çalışmada teknolojideki etkin kullanımı nedeni ile VO2 katkılı TİO2 filmlerin optik özellikleri incelenmiştir. Geçirgenliği yüksek ve dayanıklılığı iyi bir malzeme olan TİÖ2 filmleri, hacimsel olarak değişik yüzde oranlarında VO2 ile katkılandırılmıştır..Hazırlanan sollerden daldırma (dip) ve döndürme (spin) yöntemleri ve değişik katman sayılarında oluşturulan filmlerin optik geçirgenlikleri 200 - HOOnm dalga boyu aralığında ve normal geliş halinde ölçülmüştür Geçirgenlik - dalga boyu eğrilerinden hesaplanan kırma indisleri, film kaplama yöntemi, katman sayısı (dolayısıyla kalınlık), döndürme hızı ve VO2 konsantrasyonuna bağlı olarak incelenmiştir. Elde edilen değerler, filmlerin kırma indislerinin yukarıda sıralanan parametrelere şiddetle bağlı olduğu gösterilmiştir.
dc.description.abstractIn this work, we have investigated the optical properties of VO2 doped thin films because of their wide use in technology. TİO2 thin films, which have a hight transmittance capability and durability, have been prepared in various VO2 doping concentration percentages. The transmittance spectra of the films, which are prepared dip and spin coating technics from the sol, have been measured by the normal incidence UV-Visible Spectraphotometer between 200nm and HOOnm. The refractive index of the prepared thin films have been calculated from the transmittance - wavelength spectra. These films have been investigated with respect to the coating methods, number of layers, spin rate and concentration of VO2. The results show that the refractive index of the prepared films, strongly depend on these parameters.
dc.description.degreeYüksek Lisans
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11527/22843
dc.language.isotur
dc.publisherFen Bilimleri Enstitüsü
dc.rightsKurumsal arşive yüklenen tüm eserler telif hakkı ile korunmaktadır. Bunlar, bu kaynak üzerinden herhangi bir amaçla görüntülenebilir, ancak yazılı izin alınmadan herhangi bir biçimde yeniden oluşturulması veya dağıtılması yasaklanmıştır.
dc.rightsAll works uploaded to the institutional repository are protected by copyright. They may be viewed from this source for any purpose, but reproduction or distribution in any format is prohibited without written permission.
dc.subjectKarakterizasyon
dc.subjectOptik özellikler
dc.subjectSol-jel yöntemi
dc.subjectTitanyum dioksit
dc.subjectVanadyum oksit
dc.subjectİnce filmler
dc.subjectCharacterization
dc.subjectOptical properties
dc.subjectSol-gel method
dc.subjectTitanium dioxide
dc.subjectVanadium oxide
dc.subjectThin films
dc.titleTiO2 ve katkılı TiO2 ince filmlerinin hazırlanması ve karakterizasyonu
dc.title.alternativePreparation and characterization of TiO2 and doped TiO2 thin films
dc.typeMaster Thesis
dspace.entity.typePublication

Dosyalar

Orijinal paket

Şimdi gösterimde1 - 1 of 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
Adı:
100887.pdf
Boyut:
2,02 MB
Format:
Adobe Portable Document Format

Lisans paketi

Şimdi gösterimde1 - 1 of 1
Yükleniyor...
Küçük Resim
Adı:
license.txt
Boyut:
3,16 KB
Format:
Plain Text
Description: