Evaluatıon And Comparıson Of Image Qualıty For Indırect Flat Panels Wıth Csı And Gos Scıntıllators

thumbnail.default.placeholder
Tarih
2011-07-12
Yazarlar
Akkur, Erkan
Süreli Yayın başlığı
Süreli Yayın ISSN
Cilt Başlığı
Yayınevi
Fen Bilimleri Enstitüsü
Institute of Science and Technology
Özet
Bu çalışmada, CsI ve GOS sintilatörüne sahip flat panel sistemler için görüntü kalitesinin karşılaştırılması yapılmıştır. CsI ve GOS sintilatörlerinin kontrast ve detay bakımından görüntü kalitesine nasıl etki ettiğini değerlendirmek için CDRAD 2.0 fantomu kullanılmıştır. Bu çalışmada 6 farklı üreticiden olmak üzere 9 farklı ince panelli sistem değerlendirilmiştir. Bu flat panellerden 4’ü CsI sintilatörüne sahipken, kalan 5 tanesi GOS sintilatörüne sahiptir. Değerlendirmelerde, hasta kalınlığını benzetmek için CDRAD fantomunun altına ve üstüne 10’ar pleksiglas tabakalar konmuştur. Her bir sistem için ayrı dozlarda 3’er görüntü alındı ve bu görüntüler CDRAD 2.0 analiz programı ile analiz edilmiştir. Bu çalışmada, 4 farklı doz değerinde (50,100,150 ve 200 µGy) sistemlerin görüntüler elde edilmiştir. Görüntü kalite metriği olarak IQFinv değeri kullanılmıştır. Aynı sistem ve doz için 3 görüntünün IQFinv değerleri hesaplanıp ve bu değerlerin ortalamaları alınmıştır. CsI ve GOS sistemlerinin istatiksel olarak karşılaştırılması için Mann-Whitney U testi kullanılmıştır. Bu çalışmada, GOS sistemlerinin IQFinv değerleri aynı detektör içinde ve bütün sistemler arasında küçük bir varyans göstermiştir. CsI sistemlerinin IQFinv değerleri ise aynı sistem içinde ve bütün sistemler arasında GOS sistemlerine göre daha yüksek bir değişinti göstermiştir. Ayrıca, aynı CsI detektörü kullanan (aynı üreticiden aynı model) farklı sistemlerin IQFinv değerlerinde önemli farklar olduğu gözlemlenmiştir. Bunun nedenin, sistemlerin kullandığı farklı görüntü işleme yazılımları ve diğer teknik özellikler olduğu düşünülmektedir. Doz artıkça CsI sistemlerinin IQFinv değerleri GOS sistemlerine nazaran 4-5 kat daha hızlı arttığı belirlenmiştir. Son olarak, CsI sistemleri istatistiksel olarak GOS sistemlerinden daha yüksek IOFinv değerlerine sahip olduğu görülmüştür. (p<0.021).
The aim of this study is to compare flat panel detectors with cesium iodide (CsI) or gadolinium oxysulfate (GOS) scintillators. CDRAD 2.0 phantom is used to evaluate how CsI and GOS scintillators affect the image quality in terms of contrast and detail. Nine different flat panel systems (from 6 different manufacturers) are evaluated in this study. Four of these flat panels have CsI scintillators and the remaining 5 have GOS scintillators. For image acqusition, 20 layers of Plexiglas were placed on the top (10 layers) and bottom (10 layers) of the CDRAD 2.0 phantom to simulate a patient. 3 images are taken from each system at each dose level, which were analyzed by the CDRAD 2.0 analyzer software. Four different dose levels (50, 100, 150, and 200 µGys) are investigated. IQFinv is used as the quality metric. IQFinv values of GOS systems have little variance both within the same system and between all systems. On the other hand, CsI systems have higher variance in IQFinv values within the same system and between the systems. In addition, same CsI detectors (same model from the same manufacturer) used in different systems resulted in considerable difference in IQFinv values. CsI systems demonstrate 4-5 times more improvement in IQFinv value with increasing dose levels compared to GOS systems. Finally, IQFinv values of CsI systems are higher than GOS systems with statistically significance (p<0.029).
Açıklama
Tez (Yüksek Lisans) -- İstanbul Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2011
Thesis (M.Sc.) -- İstanbul Technical University, Institute of Science and Technology, 2011
Anahtar kelimeler
Dijital Radyoloji, Sintilatör, Digital Radiology, Scintillator
Alıntı