Yayın:
Trends and Controversies

Yükleniyor...
Küçük Resim

Kurum Yazarları

Item type:Araştırmacı/Yazar,
Ekenel, Hazım Kemal
Profesor

Danışman

Bölüm / Program

Dergi Başlığı

Dergi ISSN

Cilt Başlığı

Yayıncı

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Türü

Araştırma Projeleri

Akademik Birimler

Dergi Sayısı

Özet

Performing covert biometric recognition in surveillance environments has been regarded as a grand challenge, considering the adversity of the conditions where recognition should be carried out (e.g., poor resolution, bad lighting, off-pose and partially occluded data). This special issue compiles a group of approaches to this problem.

Tanım

Dergi veya Seri

IEEE Intelligent Systems

ISSN

1541-1672

ISBN

Haklar

CLOSED

Anahtar Kelimeler

deep models, face recognition, QUIS-CAMPI, surveillance, QUIS-CAMPI, surveillance, deep models, face recognition

Alıntı

Koleksiyonlar

Onay

Gözden geçir

Tamamlayıcı Bilgiler

Referans Gösteren

Related Patent

Related Goal

3
Görüntülenme
0
İndirme
Altmetric
Dimensions
PlumX Metrikleri
BIP! Indicators
Google Scholar
Scholar'da Ara ↗