Yayın: Katı Yalıtkanlardaki Elektriksel Zorlanmalar Ve Ömür Saptaması
Yükleniyor...
Dosyalar
Tarih
Yazarlar
Danışman
Bölüm / Program
Elektrik Mühendisliği
Electrical Engineering
Electrical Engineering
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Fen Bilimleri Enstitüsü
Institute of Science and Technology
Institute of Science and Technology
Türü
Özet
Bu tez çalışmasında, epoksi reçineden imal edilmiş, birbirinin aynı deney numuneleri üzerine yapılan kısmi boşalma temelli hızlandırılmış yaşlanma deneyleri üzerinde durulmuştur. Uygulanan gerilimlerin genlikleri ve etki süreleri değiştirilerek ölçümler tekrarlanmıştır. Belirli bir değerden daha yüksek kısmi boşalma gösteren deney numunelerine ait yaşlanma deney verileri bazı teknik problemler nedeniyle henüz tam olarak elde edilememiştir. Bu nedenle, örnek deney verileri üzerine yapılan istatistiksel veri analizi üzerinde durulmuştur. Örnek deney verilerini temsilen Lognormal olasılık dağılımı kullanılmış ve hızlandırılmış deney verilerinden deney numunelerine ait normal çalışma koşullarındaki ömürleri tayin etmek için Eksi Üs Modeli kullanılmıştır. Model parametrelerinin hesaplanması için En Küçük Kareler Yöntemi kullanılmış ve deney numunelerine ait ömürler belirli güven aralıkları içerisinde hesaplanmıştır.
In this thesis, accelerated ageing tests on apparently identical epoxy resin test specimens based on partial discharge measurements were introduced. Partial discharge tests were repeated for different voltage levels and exposure times. A complete ageing test data could not be obtained for the test specimens because of some technical problems. Therefore, statistical data analysis was conducted for hypothetical test data. Lognormal probability distribution was used in order to represent the sample test result and Inverse Power Model was held to predict the life under normal operating conditions from accelerated ageing test data. Model parameters were calculated with the help of least square method and lifetimes for test specimens were obtained in some confidence intervals.
In this thesis, accelerated ageing tests on apparently identical epoxy resin test specimens based on partial discharge measurements were introduced. Partial discharge tests were repeated for different voltage levels and exposure times. A complete ageing test data could not be obtained for the test specimens because of some technical problems. Therefore, statistical data analysis was conducted for hypothetical test data. Lognormal probability distribution was used in order to represent the sample test result and Inverse Power Model was held to predict the life under normal operating conditions from accelerated ageing test data. Model parameters were calculated with the help of least square method and lifetimes for test specimens were obtained in some confidence intervals.
Tanım
Tez (Yüksek Lisans) -- İstanbul Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2005
Thesis (M.Sc.) -- İstanbul Technical University, Institute of Science and Technology, 2005
Thesis (M.Sc.) -- İstanbul Technical University, Institute of Science and Technology, 2005
Dergi veya Seri
ISSN
ISBN
Haklar
İTÜ tezleri telif hakkı ile korunmaktadır. Bunlar, bu kaynak üzerinden herhangi bir amaçla görüntülenebilir, ancak yazılı izin alınmadan herhangi bir biçimde yeniden oluşturulması veya dağıtılması yasaklanmıştır.
İTÜ theses are protected by copyright. They may be viewed from this source for any purpose, but reproduction or distribution in any format is prohibited without written permission.
İTÜ theses are protected by copyright. They may be viewed from this source for any purpose, but reproduction or distribution in any format is prohibited without written permission.
Anahtar Kelimeler
Hızlamdırılmış Yaşlanma Deneyi, Kısmi Boşalma, İstatistiksel Veri Analizi, En Küçük Kareler Yöntemi., Accelerated Ageing Test, Partial Discharge, Statistical Data Analysis, Least Square Method.
Alıntı
Onay
Gözden geçir
Tamamlayıcı Bilgiler
Referans Gösteren
28
Görüntülenme
388
İndirme
Google Scholar
Scholar'da Ara ↗ Bu yayında DOI yok — Altmetric/Dimensions/PlumX/BIP! rozetleri DOI gerektirir.