Bu çalışmada SiO2-Li2O-Al2O3-K2O sistemine ZrO2 ve P2O5 çekirdeklendirici ilavesinin, lityum disilikat (LS2) cam seramiğinin kristalizasyon kinetiği ve termal genleşme katsayısına etkisi : X-ışınları difraksiyonu (XRD), yüksek sıcaklıkta x-ışınları difraksiyonu (HTXRD), diferensiyal termal analiz (DTA), taramalı elektron mikroskobu (SEM) ile mikroyapı analizi ve dilatometrik analiz yöntemleri kullanılarak incelenmiştir. İlk olarak belirlenen kimyasal kompozisyonda cam üretmek amacıyla uygun bileşimler oluşturulmuştur ve uygun sıcaklıkta camın dökümü yapılmıştır. Sonrasında çekirdeklendirme ve kristallendirme ısıl işlemleri, hazırlanan camın DTA sonuçlarına bağlı olarak yapılmıştır. Amorf ve kristal fazları, bu fazların % oranları (kristalizasyon derecesi), kullanılan farklı çekirdeklendirme katalistleri için kalitatif ve kantitatif XRD analizleriyle hesaplanmıştır. Mikroyapı görüntüleri incelenip yorumlanmıştır.