FBE- Kontrol ve Otomasyon Mühendisliği Lisansüstü Programı - Yüksek Lisans
Bu koleksiyon için kalıcı URI
Gözat
Konu "Accelerated Tests" ile FBE- Kontrol ve Otomasyon Mühendisliği Lisansüstü Programı - Yüksek Lisans'a göz atma
Sayfa başına sonuç
Sıralama Seçenekleri
-
ÖgeReliability Analysis Of Electronic Boards: Analyzing Of Field Return Data And The Impact Of Varistor Degradation(Fen Bilimleri Enstitüsü, 2016-07-22) Yadavari, Hadi ; İkizoğlu, Serhat ; 10118775 ; Kontrol ve Otomasyon Mühendisliği ; Control and Otomation EngineeringElektroniğin hızlı gelişmesiyle, özellikle son on yılda, elektronik güvenilirliği önemli bir rol taşıyor. Beyaz eşya gibi kamu hizmeti olarak üreticiler, havayolu ve askeri güvenilirliğin önemini ve maliyetlerini göz önünde bulundurmalılar. Bunlar genellikle garanti kapsamında başarısızlıktan dolayı yüksek maliyetlere maruz kalıyorlar. Güvenilirlik analizi sayesinde, ürünü sahaya sürmeden, ürünün hata eğilimleri giderilebilir ve böylece gerek garanti masrafları gerekse ürünün ve üreticinin piyasadaki itibarı üst seviyelere çıkartılabilir. Saha dönüş verileri veya garanti verileri, gelecekteki ürün bozunma tahmini, saha güvenilirlik tahmini, kalite ve güvenilirlik iyileştirme amaçları için kullanılabilir. Saha dönüş verileri bazen bize alandaki kullanım esnasında en başarısız bileşenler hakkında değerli bilgiler verir. Saha verilerin üzerinde bildirilen belirli bileşenler için başarısızlık nedenini inceleyerek, tasarımcılar ve güvenilirlik mühendisleri bu bileşen ve tüm sistemin güvenilirliği hakkında üstün bir vizyona sahip olabilirler. Ancak, sorun genellikle şu ki bu veriler uygun şekilde kayıt edilmemişler. Gerçekte, saha dönüş verisi uygunsuz korelasyon, eksik ve kötü toplanan verilere karşılık gelen hatalar içeriyor. Böyle hatalar yanlış güvenilirlik tahminine neden olabilir. Yanlış dosyalanmış saha dönüş veri analiz etkilerine ilişkin ve dolayısıyla elektronik kart güvenilirliği tahmini için, çok az sayıda literatür var. Bu çalışmanın ilk bölümü olasılık dağılım fonksiyonu dayalı bir filtreleme ve modelleme metodolojisi sunmaktadır. Bu çalışmada tüm saha dönüş verilerinden yanlış, eksik ve kötü toplanan veriler, ortadan kaldırmak için yeni bir teknik öneriliyor. İkinci modelleme aşamasında, güvenilirlik modelini geliştirmek için filtrelenmiş veriler kullanılıyor. Bu çalışmada , geleneksel tüm servis süreleri için tek dağılım kullanmak aksine farklı servis zaman aralıkları için farklı dağılımlar kullanılmaktadır. Zira tek dağlım elektronik kartların güvenilirlik performansı zaman üzerinde önemli değişiklikleri tüm servis süreleri için doğru ve tam olarak modelleyemez. Modelleme kısımında, istenen dağılımı daha doğru belirlemek için, bu çalışmada ileri ve geri yönde bir veri analiz yöntemini öneriyoruz. Bir örnek olay saha dönüş verisinde en çok hata veren ve hataya neden olan elemanlardan varistör elemanıdır. ZnO varistörler yüksek doğrusal olmayan elektrik özelliğine sahip olmaları ve mükemmel bir enerji işleme yetenekleri için, elektrik ve elektronik sistemlerinde aşırı gerilim, dalgalanmaları karşı yaygın olarak kullanılmaktadır. Uygun bir varistör seçme sistemin güvenlik ve güvenilirlik konularında önemli bir rol oynar. ZnO varistörler, kullanımda, genellikle uzun süreli AC veya DC gerilim stresi ve dalgalanmalara tabi tutulur. Bu yüzden varistör Vv geriliminin artış ile bozulmasına neden olabilir. Buna yaşlanma olgusu adı verilir ve sonunda varistör bozulmuş ve hatta termal kırılmasına veya tahrip olmasına neden olur. Bozulmuş varistörler sistem güvenilirliğini ve güvenliğini etkiler. Varistör bozulması çalışmalara dayanarak, araştırmacılar varistör bozulmasının elektronik güvenilirliğinde etkisini tek bir arıza mekanizmasını takip ettiğini savunuyorlar. Yani bu mekanizma kaçak akımın artışı veya Vv parametresinin azalmasına bağlıdır. Ancak, deneysel sonuçların olmaması için ve varistör yapısının karmaşıklığı nedeniyle, kaçak akımın azalması yani Vv değerinin artma argümanı tamamen göz ardı edilir. Varistör farklı bozulma etkilerine ilişkin çok az sayıda bildiri ve literatür bulunmaktadır ki bu çalışmaların çoğu varistörün yerleştirildiği sistemi ile ilişkisini dikkate almadan, varistör bozulmasını belirli bir test yaparak inceliyorlar. Uygulamada, ticari bir ZnO varistör degradasyon deneylerinde örnek olarak kullanılmaktadır. Bu araştırmada, varistör örnekleri beyaz eşya elektronik kartları örnek verilerinden kullanılmıştır. Hızlandırılmış degradasyon testleri farklı AC akım seviyeleri için uygulanır; daha sonra gerilim değerleri ölçülmüştür. Literatürde yaygın bir uygulamadan, sadece Vv değerlerini azalan bozunması önemsemekten farklı olarak, bu çalışma Vv parametresinde artma ve düşüş eğilimi göstermektedir. Bunun nedeniyse, artan bir kaçak akımı olan bozunma mekanizması karşı, düşen kaçak akımı varistörün bozulmasına ve patlamasına sebep olmaz. Bu yüzden düşen kaçak akıma veya yükselen Vv değerine, artan kaçak akımı veya azalan Vv değeri gibi önem verilmemiştir. Bildiğimiz kadarıyla, bu araştırma ZnO varistörinde modelleme ve karakterizasyonu üzerine her iki buzunma süreçlerini dikkate alarak ilk çalışmadır. Bozunma faktörü tanımlayarak varistör bozunma modeli tarif ediliyor. bozunma faktörü değiştirerek aşırı gerilim ne tür sistem tarafından tolere edilebilirliğini gösterilmektedir. Farklı bozunma faktörleri için farklı giriş gerilimi şekilleri inceleniyor. Simülasyon sonuçları varistör bozunmaya maruz kaldığında, kurulu aynı güç bloğundaki diğer bileşenler için ciddi hatalara neden olduğunu göstermektedir. Bu çalışmada test süresi ve test cihazları açısından hem de maliyet etkin olduğundan, AC hızlandırılmış testleri kullanılmıştır. Hızlandırılmış AC sinyalleri uygulayarak, Vv parametresinde artan ve düşen bir eğilim görmekteyiz. Vv parametresi varistörden geçen akım seviyelerine bağlıdır. Testler, akım seviyeleri belli bir eşiğin üzerinde olduğu zaman Vv de bir düşme eğilimi ve bu eşiğin altında olduğu zaman, artan bir eğilimi göstermektedir. Bu çalışmada orta ve ağır aşırı gerilimlere sınır belirlemek için bir eşik değeri belirleniyor. SPICE yazılımında ilgili devreyi farklı analizleriyle, farklı gerilim türleri için simüle ediyoruz. Simülasyon sonuçlarından Sonuç olarak, ZnO varistör buzundukca (Vv parametresinin artması), ilgili sistemin aşırı voltaj işlemek için yeteneği azalıyor. Bu yüzden yeni bir aşırı gerilim geldiği zaman sistem her an bozulabilir. Sonra AC hızlandırılmış testlerinde gözlenen bozunma süreçlerinin fiziksel temellerini araştırıyoruz.Bu bozunma mekanizmalarının her ikisini de göz önünde bulundurarak, bu çalışma bir matematiksel bozunma modeli sunuyor. Önerilen model, ZnO varistörlerin çekirdek yapısı olan tek bir tane sınırı için bozunma fiziğini inceliyor. Sonra, önerilen modeli doğrulamak için, Monte Carlo simülasyonlarını uygulayarak, sonuçları hızlandırılmış AC testlerle karşılaştırılıyor. Simülasyonların sonuçları hızlandırılmış AC testlerinden elde edilen sonuçlar ile iyi maç ediyorlar. matematiksel simülasyon ki her iki mekanizmalarını sergiliyor, ayrıca deney sonuçlarının uygulanabilirliğini teyit etmektedir.Bu çalışmanın bir özeti olarak sonunda, kavramsal hızlandırılmış AC test metodolojisini yeni bir ZnO varistörün güvenilirliğini analiz yapması için tanıtıyor.