Publication:
Femtosaniye lazer ile Sİ-plaka üzerine mikro ölçekte biçimlendirme

Loading...
Thumbnail Image

Institution Authors

Department

Savunma Teknolojileri
Defence Technology

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Fen Bilimleri Enstitüsü
Institute of Science and Technology

Research Projects

Organizational Units

Journal Issue

Abstract

Femtosaniye lazer ile mikromalzeme işleme son dönemlerde gittikçe popüler hale geldi. Bunun sebebi ise lazerin darbe süresi thermal difuzyon yasasina gore ısının yayılımından çok daha kısa zamanda gerçekleşmekte. Femtosaniye lazerin bu ayrıcalığı, özellikle mikro malzeme gibi çok küçük hacimli malzemeler işlerken, malzeme daha ısınıp zarar görmeye başlamadan mikroişlemenin bitmesinden kaynaklanmakta. Tabi bu avantaj, en önemli husus olan enerji akışı değeri melting ve ablasyon eşiği arasında tutulduğu sürece geçerli olmakta. Yapılan deneylerde Si-Wafer’ın ablation ve melting threshold değerlerinin bulunmalarının yanı sıra en düzgün yüzey karakteristiğine sahip istenilen en ve derinlikteki kanallar açılması için gerekli diğer parametrelerin bulunması çalışıldı.
Micromachining with Femtosecond Lasers has attracted a lot of attention in the recent years. The reason behind this is that according to the thermal diffusion law, femtosecond lasers pulse duration is faster than thermal diffusion itself. This advantage of femtosecond lasers helps avoid thermal damage while machining small volume materials such as micro materials. It only works as intended when using the lasers between the range of melting and ablation thresholds. During the experiments the ablation and melting threshold values for Si-Wafer were attained. Further experiments were run to gather the other required parameters to acquire cavities with the required depth and a smooth surface.

Description

Tez (Yüksek Lisans) -- İstanbul Teknik Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, 2011
Thesis (M.Sc.) -- İstanbul Technical University, Institute of Science and Technology, 2011

Journal or Series

ISSN

ISBN

Rights

İTÜ tezleri telif hakkı ile korunmaktadır. Bunlar, bu kaynak üzerinden herhangi bir amaçla görüntülenebilir, ancak yazılı izin alınmadan herhangi bir biçimde yeniden oluşturulması veya dağıtılması yasaklanmıştır.
İTÜ theses are protected by copyright. They may be viewed from this source for any purpose, but reproduction or distribution in any format is prohibited without written permission.

Keywords

femtosaniye, nanosaniye, pikosaniye, coklu foton hareketlenmesi, isiya maruz kalmis alan, taramali elektron mikroskobu, Femtosecond, Nanosecond, Picosecond, Multi-Photon Excitation, Heat Affected Zone, Scanning Electron Microscope

Citation

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By

Related Patent

Related Goal

20
Görüntülenme
70
İndirme
Google Scholar
Scholar'da Ara ↗
Bu yayında DOI yok — Altmetric/Dimensions/PlumX/BIP! rozetleri DOI gerektirir.